AVR單片機(jī)在試驗(yàn)機(jī)設(shè)備開發(fā)中的應(yīng)用
點(diǎn)擊次數(shù)：2168 更新時(shí)間：2013-03-27
試驗(yàn)機(jī)設(shè)備是檢測設(shè)備的一個(gè)分支,多數(shù)屬于計(jì)量產(chǎn)品。我國的試驗(yàn)機(jī)設(shè)備絕大部分屬于中低檔技術(shù)水平,可靠性、穩(wěn)定性等關(guān)鍵性指標(biāo)尚未全部達(dá)到要求,在科技創(chuàng)新方面跟潮流相比滯緩太多,形勢非常嚴(yán)峻。為了彌補(bǔ)國內(nèi)該行業(yè)的不足,我們選擇了良好的AVR單片機(jī)構(gòu)建試驗(yàn)機(jī)設(shè)備的開發(fā)平臺(tái)。 在國內(nèi)試驗(yàn)機(jī)設(shè)備開發(fā)中,偏重于使用51系列單片機(jī)和16位、32位嵌入機(jī)。隨著設(shè)備功能的擴(kuò)展、外圍芯片性能的提高以及提升試驗(yàn)設(shè)備整體性能的要求,51單片機(jī)已經(jīng)不能滿足開發(fā)要求;而嵌入式處理器應(yīng)用到試驗(yàn)設(shè)備又過于復(fù)雜,大材小用,不能滿足實(shí)時(shí)性的要求,平臺(tái)不完善,對(duì)舊機(jī)器兼容不好,成本過高。ATMEL公司的AVR單片機(jī)是快速低功耗的新型單片機(jī),它的各項(xiàng)性能指標(biāo)更適合當(dāng)前試驗(yàn)設(shè)備的開發(fā)需要。使用AVR單片機(jī)的試驗(yàn)設(shè)備開發(fā)平臺(tái)在國內(nèi)還沒有公開的先例,本文的研究對(duì)國內(nèi)試驗(yàn)設(shè)備的開發(fā)具有非常重要的意義。 本文在詳細(xì)了解AVR單片機(jī)的結(jié)構(gòu)及各相關(guān)模塊的基礎(chǔ)上,應(yīng)用AVR單片機(jī)完成了試驗(yàn)設(shè)備的人機(jī)界面、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、以及相關(guān)控制等功能模塊的設(shè)計(jì)方案,設(shè)計(jì)了硬件電路及軟件系統(tǒng)。利用ATMEGA64和觸摸屏設(shè)計(jì)的新型試驗(yàn)設(shè)備人機(jī)界面,顯示信息量大,數(shù)據(jù)顯示快捷,觸摸按鍵響應(yīng)快,可靠性好,充分滿足了現(xiàn)代試驗(yàn)設(shè)備對(duì)人機(jī)界面的要求。利用ATMEG169設(shè)計(jì)的試驗(yàn)設(shè)備數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),有效地減少外圍芯片數(shù)量,實(shí)現(xiàn)多路率的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,同時(shí)提高了數(shù)據(jù)處理速度。利用AVR單片機(jī)的PWM功能實(shí)現(xiàn)了熱變形維卡軟化點(diǎn)測定儀中對(duì)加熱功率的控制,以及滴灌綜合試驗(yàn)設(shè)備中實(shí)現(xiàn)恒定壓力源。zui后探討了AVR單片機(jī)在開發(fā)過程中采用的抗干擾技術(shù)。 通過對(duì)上述各模塊的開發(fā),構(gòu)建了一套以AVR單片機(jī)為核心的試驗(yàn)設(shè)備開發(fā)平臺(tái),提高了系統(tǒng)整體性能。承繼了原有51開發(fā)平臺(tái)的模塊,大大縮短了s新機(jī)型的開發(fā)周期。
試驗(yàn)設(shè)備包括：振動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備，電力試驗(yàn)設(shè)備，醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備，電氣試驗(yàn)設(shè)備，汽車試驗(yàn)設(shè)備，通信實(shí)驗(yàn)設(shè)備，恒溫試驗(yàn)設(shè)備，化工實(shí)驗(yàn)設(shè)備等。廣泛應(yīng)用于航空、電子、軍事、電工、汽車等及其零部件材料在使用儲(chǔ)運(yùn)過程中對(duì)溫度環(huán)境的適應(yīng)性試驗(yàn)。
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